電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義

電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義：

  介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無關(guān),便于不同設(shè)備之間進行比較。

  電阻率測定儀應用介質(zhì)損耗因素及電阻率測定儀測量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時流過絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。

  按照電力設(shè)備預防性試驗規(guī)程的規(guī)定,對多種電力設(shè)備(如電力變壓器、發(fā)電機組、高壓開關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測量。

  所以tgδ試驗是一項*而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設(shè)備絕緣情況,發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷。

  電阻率測定儀主要用于測量炭制品和石墨制品以及其它導電棒狀材料在實驗室常溫下的電阻率，包括粉體材料。